尼得科精密检测科技株式会社将参加2025年2月19日(周三)至2月21日(周五)于首尔市COEX会议中心举办的“SEMICON KOREA 2025”。

本次展会上,尼得科精密检测科技将展出用于IGBT/SiC的功率半导体检测设备、用于EV/HEV等驱动电机的测试台以及尼得科精密检测科技的子公司SV Probe开发制造的晶圆检测治具“探针卡”等最新解决方案。

本次参展将主要介绍体现公司核心“测量”技术的半导体探针卡、半导体封装基板电气检测系统“GATS系列”以及功率半导体电气检测系统“NATS系列”产品。

基于长期积累的检测技术,尼得科精密检测科技将为客户提供最新的检测解决方案以及贡献于未来的新产品和新技术。

〈参展概要〉

展  期:2025年2月19日(周三)～2月21日(周五)

会  场:首尔市 COEX会议中心

展  位:3楼HallC C600

官  网:https://www.semiconkorea.org/en

〈参展产品〉

用于高电压测试的加压结构探针卡

用于高温/高电流测试的探针卡

2D-MEMS探针卡

用于IGBT/SiC模块的绝缘/静态特性/动态特性检测装置“NATS-1000/1700系列”

KGD测试设备“NATS-1300系列”

用于功率半导体模块的动态可靠性测试设备“NATS-8000系列”

Reference Inverter

用于EV驱动电机的测试台“TDAS系列”

半导体封装基板电气检测系统“GATS-7000系列”

AI服务器大型基板电气检测系统“GATS-8360”

AC/DC多功能测试仪“R-700系列”

超高精度检测用探针