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尼得科精密检测科技将参展TPCA Show TAIPEI 2026
发布时间:2026-10-13 15:13:23 来源:

尼得科精密检测科技株式会社(以下简称“本公司”)将参展于2026年10月20日(星期二)至10月22日(星期四)在中国台北南港展览中心举办的国际展览会“TPCA Show TAIPEI 2026”。

本展示会由中国台湾电路板协会(TPCA)主办,汇集了用于电子、信息通信、控制设备等的电子电路和实装技术,以及电子基板的原材料和化学品等,与PCB(印制电路板)行业相关的所有产品和技术。

本公司以“支撑AI时代品质的创新检测技术”为主题,针对随着微细化与Heterogeneous Integration(异构集成)而不断大型化、高密度化的高端电路基板,为确保持续进化的电子产业需求,提供优化的解决方案。

此外,我们将实物展示面向背钻的X射线检测解决方案,以及通过尼得科集团的协同效应新诞生的自动搬运机“EFEM(Equipment Front End Module)”。现有的图像检测装置和电气检测装置也实现了更高精度,我们将提出满足前沿产品质量要求的综合检测解决方案。

〈参展概要〉

会期:2026年10月20日(星期二)~10月22日(星期四)

会场:中国台湾台北南港展览中心(TaiNEX 1)

展位:K-725

〈主要展示内容〉

面向FOPLP/RDL的导通/短路检测装置“GATS‐7885”

半导体封装多面贴装全面板基板检测装置 “GATS‐8370”

面向大型分立半导体封装的高精度检测装置 “GATS‐7837”

面向大型/多引脚基板的导通绝缘检测装置 “STAR RECV6”

支持CoWoP 面向大型HDI的导通/短路检测装置“GATS‐8360”

支持高密度基板的2D/3D光学式检测装置 “RSH系列”

光模块大型基板対応次世代AI外观检测装置 “AURCA Series”

面向TGV(Through Glass Via)的高精度检测解决方案

窄间距对应治具解决方案 “NS探针”

(实机展示)

用于背钻的高速CT型X射线检测机

Wafer用自动搬送机EFEM “AVR SMV 3000” ※与尼得科仪器共同开发

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