尼得科精密检测株式会社（以下简称“本公司”）将参展2025年9月24日（周三）～9月26日（周五）于上海新国际博览中心举办的“PCIM Asia Shanghai 2025”。

该展会是代表电力电子行业的国际性展会，汇集了前沿的技术和趋势，成为了把握市场新动向的平台。此外，也是覆盖了从功率半导体到封装、系统以及应用的整个价值链的活动。

本公司将在本次展会上展示与IGBT/SiC等功率半导体检测相关的前沿检测技术及检测装置。此外，还将进行IGBT/SiC/GaN功率半导体检测装置NATS系列的实机演示，并提供如多功能测试仪等多样化的功率半导体检测解决方案。

〈参展概要〉

会期：2025年9月24日（周三）～9月26日（周五）

会场：上海新国际博览中心

展位：B46

〈主要参展内容〉

IGBT/SiC半导体功率模块可靠性检测装置“NATS系列”

AC/DC电容测量用多功能测试仪“R-700系列”